Halvleder ATE Load Board ISU-WLB-0005 Wafer Level Burn-In Test PCB Utestet

BeskrivelseHalvleder ATE Load Board ISU-WLB-0005 Wafer Level Burn-In Test PCB Utestet

Dette er et Semiconductor ATE Load Board merket ISU-WLB-0005 (ISE_F198HW062A_LB01). Kortet er laget for wafer-level burn-in testing som grensesnitt mellom ATE-system og DUT (Device Under Test). Solid aluminiumsramme med bærehåndtak, gullbelagte testpunkter og høy-tetthets kontakter.

Modell: ISU-WLB-0005 / ISE_F198HW062A_LB01
Wafer Level Burn-In (WLB) testkort
Solid aluminiumsramme med bærehåndtak
Flere grupper med gullbelagte kontaktpunkter
Pin-mapping tabeller trykt på PCB
For ATE / halvleder testmiljøer

Internasjonal Frakt: Vær oppmerksom på at importkostnader (som toll, MVA eller håndteringsgebyrer) kan påløpe ved frakt utenfor Norge. Disse kostnadene er kjøperens ansvar.

Vet du noe om denne varen? Fortell oss for å gjøre oppføringen enda bedre.

(English Translation)

Semiconductor ATE Load Board ISU-WLB-0005 Wafer Level Burn-In Test PCB Untested

This is a Semiconductor ATE Load Board labeled ISU-WLB-0005 (ISE_F198HW062A_LB01). It is designed for wafer-level burn-in testing, serving as the interface between ATE systems and the DUT (Device Under Test). Features a rigid aluminum frame with handle, gold-plated test pads, and high-density connectors.

Model: ISU-WLB-0005 / ISE_F198HW062A_LB01
Wafer Level Burn-In (WLB) test board
Solid aluminum frame with carrying handle
Multiple groups of gold-plated contact pads
Pin-mapping tables printed on the PCB
For ATE / semiconductor test environments

Condition:
Pre-owned, untested. Sold as-is.

Do you know anything about this item? Tell us to make the listing even better.

— AN 20250929 B207, Cardboard box